现场测试保证光纤链路性能
发布时间:2006-10-14 4:11:26   收集提供:gaoqian
汤怀京
  随着光纤通信技术的应用越来越广,为了满足“高速率、大容量、远距离”通信的要求,制造光纤的原料的品种越来越多,光纤制作的工艺技术也有突破性发展,光纤的新品种和新结构不断出现,产品质量也不断提高。但是,一条完整的光纤链路的性能不仅取决于光纤本身的质量,还取决于连接头的质量以及施工工艺和现场环境。所以,对于光纤链路进行现场认证测试是十分必要的。

光纤链路现场测试内容

  对于光纤系统需要保证的是在接收端收到的信号应足够大,由于光纤传输数据时使用的是光信号,因此它不产生磁场,也就不会受到电磁干扰(EMI)和射频干扰(RFI),不需要对NEXT等参数进行测试,所以光纤系统的测试不同于铜导线系统的测试。

  在光纤链路现场认证测试中,主要是对光纤的光学特性和传输特性进行测试。光纤的光学特性和传输特性,对光纤通信系统的工作波长、传输速率、传输容量、传输距离和信号质量等有着重大影响。但由于光纤的色散、截止波长、模场直径、基带响应、数值孔径、有效面积、微弯敏感性等特性不受安装方法的有害影响,它们应由光纤制造厂家进行测试,不需进行现场测试。在EIA/TIA―568―B中规定光纤通信链路现场测试所需的单一性能参数为链路损失(衰减)。

光纤链路现场测试工具

光源

  目前的光源主要有LED(发光二极管)光源和激光光源两种。LED光源虽然造价比较低,但是由于LED光源的功率及其散射等性能的缺陷,在短距离的局域网中应用较多,而在长距离的局域网主干中都使用传统的激光光源,但是激光光源设备昂贵。为了能够克服这两种光源的缺陷,近两年来,人们又研制出了一种新型的光源,这就是VCSEL(垂直腔表面发射激光)光源。



  VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)是指垂直腔体表面发射激光器,是一种半导体类型的微激光二级管。和传统的激光光源器件相比,VCSEL是一种性能好且制造成本低的新型激光光源。所以,它得到了越来越广泛的应用,特别是在千兆网中的应用。目前很多网络的互连设备,如交换机和路由器,都可以提供VCSEL光源的端口,从而使路由器和交换机的价格下降。

光功率计

  光功率计是测量光纤上传送信号强度的设备,用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗。在光纤系统中,测量光功率是最基本的。光功率计的原理非常像电子学中的万用表,只不过万用表测量的是电子,而光功率计测量的是光。通过测量发射端机或光网络的绝对功率,一台光功率计就能够评价光端设备的性能。用光功率计与稳定光源组合使用,组成光损失测试器,则能够测量连接损耗、检验连续性,并帮助评估光纤链路传输质量。

光时域反射计(OTDR)

  现在,电信光缆传输网已成为承载着巨大信息量的信息高速公路。因此,保证其安全、畅通是非常重要的。这样就要求有一种能够准确地测量光纤传输特性的仪器、仪表,以便能够了解光纤的传输情况,发现光纤故障。光时域反射仪(OTDR)正是一种这样的光学仪表,是光缆施工、维护及监测中必不可少的工具。

  OTDR一般用于电信这种长距离的光纤通信系统的安装与维护中,在局域网的测试中很少使用到它。

光纤链路现场测试实施意见

  在光纤通信链路现场测试中,有时由于进行了不正确的操作,而导致测量结果与实际的数值存在很大偏差,这是由于操作人员认识上的错误造成的。在这里提出两点建议,希望大家在以后的实际应用中能够受益。

光源对光纤链路测试的影响

  当前光纤通信链路中使用的光纤的种类很多,系统中使用的光源也有LED、VCSEL以及传统的激光光源,而且光源又有不同的波长,在光纤的测试标准上又有局域网标准和光缆链路的安装标准。基于上述原因,在测试光缆链路时最好是使用和网络设备相一致的光源进行测试。这是因为由于光源不同,它们对电缆链路的性能要求也不相同。很多用户没有注意到这一点,致使测量结果存在着很大的误差。

  因此,为了使光纤通信链路的现场测试结果能够真实地反映出链路在实际应用中的性能,在进行光纤通信链路现场测试时一定要选用与实际应用中所用光源类型一致的光源进行测试。

环路测试

  光纤在实际应用中总是成对使用的,一根用于信号发送,另一根用于信号接收,所以在进行光纤通信链路现场测试中应该对光纤成对地测量。在光纤通信链路现场测试过程中,很多人为了方便而使用了一种环路测试的方法(如图2所示),这种方法通过使用一段光纤跳线,可以一次同时测量两条光纤链路。



  但是,值得注意的是,这种环路测试方法所得到的结果是不准确的。对于这种情况可以考虑选用美国Fluke公司的DSP-FTA-4X0系列光缆测试适配器配合DSP-4000/4100数字式电缆分析仪(如图3所示),这样就可以自动对双光纤进行双波长的认证测试,也就不会产生环路测试所存在的问题。



摘自《中国计算机报》
 
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