朱海平1, 张向民2
[1. 爱德万测试（苏州）有限公司，江苏苏州；
2. 清华大学微电子研究所，北京］
摘 要：简要介绍了清华大学微电子研究所设计的用于WLAN（802.11b）基带处理器芯片组的高速ADC及DAC，以及爱德万测试如何使用WVFG／WVFD实现高速ADC/DAC的测试。
关键词：WLAN；高速ADC／DAC；WVFG／WVFD；混合信号测试
Test of High Speed ADC/DAC/for WLAN(802.11b)BBP Chipset
ZHUHAi－piNG1, ZHANGXiANG－MiN2
[1.ADVANTEST(SuzHou) Co., LTD, jiangSu；
2.institute of MiCRoELECTRoNiCS, TSiNGHuA UNiVERSiTy, China]
ABSTRACT：In This Time, A High Speed ADC AND A High Speed DAC HAVE been Designed by institute of MiCRoELECTRoNiCS, TSiNGHuA University, which ARE used in THE baseband processor For Wlan (802.11b) Chipset.Since THE SAMpLiNG FREquENCy is very HiGH,it is DiffiCuLT To test THESE DEViCES. ADVANTEST HAS Successfully Achieved the Mixed Signal ics TEST With T6673(SoC TEST System).This paper introduces THESE devices and THE MEASurement Result of High Speed Mixed SiGNAL TEST.
KEYWORDS: WLAN；HiGH SpEED ADC/DAC；WVFG/WVFD；Mixed signal test
1 用于WLAN(8.11b)标准和芯片集的ADC/DAC
WLAN使用了iEEE的802.11标准。这个标准从诞生起就经历了一系列的变迁，人们用字母（最常见的是802.11b）将它分类，以此形成了许多无线设备的运作基础。
WLAN的每一类都处理着无线通信运作的不同元素，包括数据周期、QoS、互通性和安全性。表1 说明了这些分类主要的区别。其区别主要在于他们的带宽和数据周期。因此构筑在802.11规格上的芯片集有相似的结构。图1表示802.11 网络接口的主要结构。这里的芯片集包含了许多区域，比如bbp(bASE bAND pRoCESSoR)、MAC(MEDiA ACCESS CoNTRoLLER)、iF/RF和poWER AMpLiFiER等。
在bbp部分，有一些带有AGC、i/Q 调节器/解调器、i/o控制收发器, 并包含用于i/Q输入输出的ADC/DAC。图2 表示802.11b基带处理器简化了的结构。
从图2可以看出，主要的时钟频率是44MHz。分频后，ADC和DAC在最大为22MHz的时钟下工作。模拟输入和输出信号的分辨力达到了6biT。只有AGCCoNTRoL需要一个7bitADC/DAC。考虑到一些设计余量，8biT＠2zMHz的ADC/DAC适合802.11b基带处理器。
另一方面，我们希望高速ADC/DAC能够满足其整体要求，因此提高芯片的性能以达到其他要求。最后，高速ADC达到了10bit＠40MHz，高速DAC达到了8bit＠100 MHｚ。它们被802.11b基带处理器芯片集采用。同时，在8biT DAC的结构基础上，我们又设计了另外的12biTDAC，使它的频率达到了50MHz。图3和4表示这种高速ADC/DAC 芯片的结构。
高速ADC和DAC除了用于WLAN基带处理器芯片集，也可以应用于独立芯片的其他高速需求,并且可以作为ip核 应用于SoC设计。
那么怎么满足这种高速AD/DA芯片的测试要求呢？ADVANTEST提供了优秀的测试方案。
2 ADC测试
高速10位ADC具有一对差分输入，共模电压为2.5 V，Vp－p为1V。这意味着模拟输入电压范围是2～3V。这样模拟输入精度就是：
1LSb＝(Vinmaｘ－Vinmin)/2n＝(3－2)/210＝976.6μ
(N为数字输出位数)
为了能测试这样精度的芯片，我们需要输入更高精度的模拟电压。此次测试时输入的模拟电压精度为：
芯片的最大采样频率为25 MHｚ或更高。
于是，在测试中存在两个问题。一个是如何产生如此高精度的模拟电压信号（电压精度为200μV左右），另一个是如何实现如此高的采样频率。
为了满足这两个测试要求，我们使用了WVFG（wide video frequency generator）测试硬件。WVFG的具体性能指标见表2。
可以选择LoW DiSToRTioN MoDE来达到上述要求：
1)1LSb＝1V/214＝61.0μV＜244.1μV
2)采样频率＝100MSpS＞25MSpS
通过使用上述的硬件，就可对ADC芯片进行测试。我们主要测试了以下芯片的AC参数：
测试这些参数，最主要是测出芯片的基波、高次谐波及噪声。测试流程如下并见图5。
1)使用WVFG生成一对差分的正弦波模拟信号，输入芯片；
2)芯片将其转换为相应的数字输出；
3)使用测试系统的数字通道获取芯片的数字输出，并将其组合成数字码；
4)对数字码进行分析得到芯片的基波、高次谐波及噪声（利用FFT变换）；
5)计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD。
生成了合适的正弦模拟信号并获取了芯片正确转换得到的数字码之后，就可以通过FFT变换得到基波、高次谐波及噪声的数据。计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD也就变得十分方便了。
芯片实际测试数据见表3。
3 DAC测试
12位高速DAC是电流型输出，而且满量程电流可以调节（可调节范围为2～20 MA）。通常情况下，处理电压输出比处理电流输出更为容易；所以我们通过使用测试系统自带的50 Ω终端连接芯片的模拟输出端，将芯片等效成电压型输出来进行测试。这样模拟输出的电压精度为：
芯片的最大采样频率为50MHz或更高（8位高速DAC芯片的最大采样频率达到100MHz或更高）。
正如前面提到的高速ADC测试，高速DAC测试也有两个难点需要解决。一个是如何获取和解析如此高精度的模拟电压信号，另一个是如何达到如此高的采样频率。
为了满足这两个测试要求，我们使用了WVFD （Wide Video Frequency Digitizer）测试硬件。 WVFG的具体性能指标见表4。
选择High Speed模式：
1) 1LSb＝0.35V/214＝21.36μV＜24.41μV
2)SAMpLE Frequency＝250MSpS(HiGH Speed Mode)＞100MSpS
由于测试的AC参数与高速ADC测试相同，所以测试流程也比较相似,见图9。
1)使用DAWG(DiGiTAL ARbiTRARy WAVEFoRM GENERAToR)生成正弦数字码信号输入到芯片；
2)芯片将这些数字码信号转换，输出正弦的模拟信号；
3)使用WVFD获取这些芯片转换输出的模拟信号，并将其转换为数字码；
4)对数字码进行分析得到芯片的基波、高次谐波及噪声（利用FFT变换）；
5)计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD。
获取了芯片转换输出的模拟信号之后，就可以通过FFT变换得到基波、高次谐波及噪声的数据。计算 SFDR、SiNAD、SNR和THD也样 变得十分方便了。
芯片实际测试数据见表5、6及图10、11。
4 混合信号测试小结
ADVANTEST已经推出各系列的SoC测试系统：T6500和T6600能对应混合信号测试和数字信号测试，见表7。
T6500和T6600系列具备ADC/DAC测试能力。ADVANTEST对在全球居领导地位的半导体生产商有着长期的测试应用支持经验，当然也包括对知名的混合信号芯片设计及生产厂商的长期支持。为了更好地进行混合信号芯片的测试，我们将继续努力，致力于提供 GET Solution (Globally Enabled total Solution) 的服务。
摘自 电子工业专用设备
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